Анализ процессов в полупроводниковых устройствах. Часть 5

PDF
Mark as finished
How to read the book after purchase
  • Read only on LitRes Read
Book description

В четвертой части учебного пособия подробно изложена физика процессов, происходящих в полевых транзисторах с барьером Шоттки на арсениде галлия, наиболее быстродействующих и широко применяемых в СВЧ-диапазоне. Рассмотрена электрофизическая модель на данный тип транзисторов и приведены практические результаты, доказывающие правомерность такой модели. Данная часть пособия полезна студентам, специализирующимся в проектировании быстродействующих электронных средств по твердотельной технологии.

Detailed info
Age restriction:
0+
Date added to LitRes:
24 April 2018
Size:
79 pp.
ISBN:
978-5-7782-1618-1
Total size:
2 MB
Total number of pages:
79
Page size:
148 x 210 мм
Copyright:
Новосибирский государственный технический университет
Анализ процессов в полупроводниковых устройствах. Часть 5 — read a free preview online. Leave comments and reviews, vote for your favorite.

Отзывы

Сначала популярные

Оставьте отзыв