Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств
PDFFrom the series: Прикладная информатика. Научные статьи
Mark as finished
- Size: 6 pp.
- Genre: Mathematics, Programming
- Included in the collection: Прикладная информатика №2 (50) 2014
Book description
В статье изложены основные принципы объединения отдельных тестовых проверок модулей, составляющих цифровое устройство, в единую тест-программу. Объединение проверок проводится при неполной информации относительно реакций неисправного устройства. Формулируются свойства оптимально упорядоченной последовательности проверок в тесте. Предлагаются эвристические алгоритмы упорядочения проверок.
Detailed info
- Age restriction:
- 0+
- Date added to LitRes:
- 24 June 2014
- Date written:
- 2014
- Size:
- 6 pp.
- Total size:
- 0 MB
- Total number of pages:
- 6
- Page size:
190 x 265 мм
- Copyright:
- Синергия
Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств by В. Б. Шувалов—download pdf or read online. Leave comments and reviews, vote for your favorite.
Book is part of series
«Прикладная информатика. Научные статьи»
«Прикладная информатика. Научные статьи»
-5%
Оставьте отзыв
Отзывы