Основной контент книги Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов
Text PDF
Volume 43 pages
2013 year
Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов
$1.42
About the book
В лабораторном практикуме излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых материалов и методы контроля их электрофизических и структурных параметров. Материал практикума соответствует учебному плану курса «Основы технологии электронной компонентной базы».
Genres and tags
Log in, to rate the book and leave a review
Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов book by Дмитрия Крутогина, Олега Рабиновича – read online on the website. Leave comments and reviews, vote for your favorites.
Age restriction:
0+Release date on Litres:
29 March 2018Writing date:
2013Volume:
43 p. Total size:
748 КБTotal number of pages:
43Copyright Holder::
МИСиС