Читайте только на Литрес

The book cannot be downloaded as a file, but can be read in our app or online on the website.

Основной контент книги Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов

Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов

Book duration 43 pages

2013 year

Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов

authors

Читайте только на Литрес

The book cannot be downloaded as a file, but can be read in our app or online on the website.

$1.48

About the book

В лабораторном практикуме излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых материалов и методы контроля их электрофизических и структурных параметров. Материал практикума соответствует учебному плану курса «Основы технологии электронной компонентной базы».

Genres and tags

Material scienceWorkshops

Book Дмитрия Крутогина, Олега Рабиновича «Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов» — read online on the website. Leave comments and reviews, vote for your favorites.

Age restriction:

Release date on Litres:

29 March 2018

Writing date:

2013

Volume:

43 p.

Total size:

748 КБ

Total number of pages:

МИСиС