Читайте только на Литрес

The book cannot be downloaded as a file, but can be read in our app or online on the website.

Основной контент книги Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов
Text PDF

Volume 43 pages

2013 year

0+

Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов

Читайте только на Литрес

The book cannot be downloaded as a file, but can be read in our app or online on the website.

$1.40

About the book

В лабораторном практикуме излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых материалов и методы контроля их электрофизических и структурных параметров. Материал практикума соответствует учебному плану курса «Основы технологии электронной компонентной базы».

Genres and tags

Log in, to rate the book and leave a review
Book Дмитрия Крутогина, Олега Рабиновича «Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов» — read online on the website. Leave comments and reviews, vote for your favorites.
Age restriction:
0+
Release date on Litres:
29 March 2018
Writing date:
2013
Volume:
43 p.
Total size:
748 КБ
Total number of pages:
43
Copyright holder:
МИСиС
Text, audio format available
Average rating 4,7 based on 207 ratings
Audio
Average rating 4,2 based on 724 ratings
Text, audio format available
Average rating 4,5 based on 24 ratings
Text
Average rating 4,9 based on 2533 ratings
Text, audio format available
Average rating 4,7 based on 773 ratings
Text
Average rating 4,9 based on 1931 ratings
Audio
Average rating 4,5 based on 223 ratings