Основной контент книги Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия
Text PDF
Volume 94 pages
2006 year
Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия
$4.65
About the book
В курсе лекций изложены основы динамической теории, геометрические аспекты формирования изображений и основные положения дифракционной теории формирования контраста на дефектах в разных схемах дифракции: схема отражения по Брэггу и Лауэ. Приведен качественный анализ характера контраста на дефектах различного типа. Для более полного усвоения материала приводится большой объем иллюстраций.
Genres and tags
Log in, to rate the book and leave a review
Book Владимира Бублика, Андрея Мильвидского «Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия» — read online on the website. Leave comments and reviews, vote for your favorites.
Age restriction:
0+Release date on Litres:
28 March 2018Writing date:
2006Volume:
94 p. Total size:
8.8 МБTotal number of pages:
94Copyright holder:
МИСиС
